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隨著快速數據采集和數據處理技術的發展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且重視其采集過程的時代

以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發出TM4000系列

型號：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設計，可實現4Å（0.4nm）的優異重復性，掃描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統經過專門設計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現快速掃描

BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能強大，操作簡便易行

系統配置豐富，高分辨θ/θ閉環測角儀驅動系統、多位自動換樣系統、包括多層膜反射鏡平行光系統的全自動光學系統和二維陣列半導體探測器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實現覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量，可執行高精度全自動物質結構測試分析任務