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產(chǎn)品中心電鏡樣品制備離子研磨儀
IM4000Ⅱ標準離子研磨儀使用低能量Ar離子束，加工無應力損傷的樣品截面，為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)、結(jié)晶狀態(tài)、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法
更新時間：2024-11-18
產(chǎn)品型號：IM4000Ⅱ
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ArBlade5000 是日立離子研磨儀的高性能機型。它實現(xiàn)了超高速截面研磨。高效率截面加工功能，使電鏡截面觀察時樣品 加工更簡單。
更新時間：2024-11-18產(chǎn)品型號：瀏覽量：808
